2025-09-01
1. Ультразвуковая дефектоскопия
Ультразвуковой контроль и толщинометрия различных металлических труб, пластин, отливок, поковок и сварных швов. При распространении ультразвуковых волн через такие дефекты, как трещины, пустоты и сегрегации, изменяются их акустические параметры, такие как скорость, амплитуда и частота. Измеряя эти изменения, прибор может определить наличие дефектов и точно определить их местоположение.
Ультразвуковой импульс (обычно 1,5 МГц) излучается преобразователем в контролируемый объект. При наличии внутреннего дефекта между дефектом и материалом образуется граница раздела. Часть прошедшей ультразвуковой волны отражается или преломляется на дефекте, уменьшая энергию, первоначально распространяющуюся в одном направлении. В этом случае отраженная волна от дефекта принимается в направлении отражения, в то время как принятая ультразвуковая энергия в направлении распространения меньше нормы. Оба условия подтверждают наличие дефекта. При дефектоскопии способность преобразователя принимать импульсные сигналы также может быть использована для определения местоположения и размера дефектов. Первый метод называется методом отражения, а второй — методом проникновения. 2. Магнитопорошковая дефектоскопия
Подходит для неразрушающего контроля ферромагнитных материалов, таких как отливки, поковки и другие обработанные детали.
3. Ультрафиолетовые лампы
Недорогой, высоконадежный и простой в эксплуатации. Подходит для обнаружения утечек в различных трубопроводах, контроля однородности покрытий, обнаружения примесей и пятен, применения в полупроводниковой и биологической промышленности, медицинской терапии, а также для исследования спецэффектов на разных этапах.
4. Радиографический контроль
Радиографический контроль можно разделить на три типа: рентгеновский, гамма- и высокоэнергетический радиографический.
Рентгенография использует ослабление излучения в материалах и его фотохимические и флуоресцентные эффекты на некоторых веществах. С точки зрения интенсивности излучения, когда интенсивность излучения на обрабатываемом объекте равна J0, излучение, проходящее через обрабатываемый объект, уменьшается до Jc из-за ослабления излучения материалом обрабатываемого объекта. При наличии дефекта в заготовке фактическая толщина заготовки, через которую проходит излучение, уменьшается, что приводит к большей интенсивности излучения Ja и Jb, чем в точке без дефекта. С точки зрения фотохимического воздействия излучения на плёнку, чем сильнее излучение, тем сильнее фотохимическое воздействие на плёнку, т.е. тем выше её чувствительность. Пленка с высокой чувствительностью становится темнее после обработки в тёмной комнате. Следовательно, дефекты в заготовке при воздействии излучения оставляют на плёнке чёрные тени. В этом заключается принцип дефектоскопии в радиографической фотографии.